日本電子發(fā)布新的STEM探測器“4DCanvas”(2017-08-07)

2017年7月，日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”?！　∽鳛橐环N新穎的新型探測器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強(qiáng)度，作為STEM圖像的每個像素的二維(2D…[詳情]

日本電子推出新探測器“4DCanvas”(2017-08-03)

2017年7月，日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”。 　　作為一種新穎的新型探測器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強(qiáng)度，作為ST…[詳情]

日本電子推出新探測器“4DCanvas”(2017-08-03)

【中國儀表網(wǎng)儀表新品】2017年7月，日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”?！　∽鳛橐环N新穎的新型探測器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子…[詳情]