STEM探測器
日本電子發(fā)布新的STEM探測器“4DCanvas”(2017-08-07)
2017年7月,日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”。 作為一種新穎的新型探測器,“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強(qiáng)度,作為STEM圖像的每個(gè)像素的二維(2D…[詳情]
STEM探測器
日本電子發(fā)布新的STEM探測器“4DCanvas”(2017-08-07)
2017年7月,日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”。 作為一種新穎的新型探測器,“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強(qiáng)度,作為STEM圖像的每個(gè)像素的二維(2D…[詳情]