圖1 系統(tǒng)框圖
Fig. 1 Draft of the system
2 數(shù)學模型
2.1 均勻性檢查數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
對某一標準物質(zhì)均勻性檢查數(shù)據(jù)的處理方式有兩種,分別是推薦使用極差分析法和方差分析法。極差法的特點是計算簡單,但對原始數(shù)據(jù)提供的信息利用不夠充分,而方差法正好相反。其原理如下:
對某一樣品進行均勻性檢查,得到以下各組數(shù)據(jù):
測定值平均值 總平均值為x。
x11,x12,x13,…,x1n x1 1
x21,x22,x23,…,x2n x2 … … 2
xm1,xm2,xm3,…,xmn xn n
2.1.1 極差分析法
(1)計算組內(nèi)極差平均值
?。?)計算檢驗量 R0=A*r,其中A為表中查到的界值因子。
(3)計算組間平均值的極差R=xmax-xmin。
?。?)結(jié)果判斷:若R≤R0,則總體均勻,否則總體不均勻。
2.1.2 方差分析法
?。?)計算組間平方和Q1與組內(nèi)平方和Q2
?。?)計算組間方差S12與組內(nèi)方差S22 :
S12=Q1/V1其中V1=m-1為Q1的自由度。
S22=Q2/V2其中V2=m(n-1)為Q2的自由度。
(3)計算統(tǒng)計檢驗量F,F(xiàn)=S22/S12。
?。?)結(jié)果判斷:若F≤F表(F表為查表得到的臨界值),則總體均勻,否則總體不均勻。
2.2 定值數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
對于標準物質(zhì)的定值,一般要求不少于六個試驗室單獨進行分析,每個試驗室報出四個數(shù)據(jù),注明所用的分析方法。
對某一元素,不同的試驗室分析結(jié)果如下:
試驗室代號 測定值平均值方法代號 平均值 方法代號
1 x11,x12,x13,…,x1n 1 a1
2 x21,x22,x23,…,x2n 2 a2
… … … …
m xm1,xm2,xm3,…,xmn m a3
總平均值為,標準偏差為S 。
檢驗的方法,按國標要求需進行可疑值檢驗和正態(tài)分布檢驗,一般推薦使用Grubbs法檢驗可疑值,用Welk法進行正態(tài)分布檢驗。
2.2.1 Grubbs法檢驗可疑值
?。?)將各試驗室的平均值按由小到大的順序排列。
?。?)計算最大值和最小值的統(tǒng)計檢驗量
(3)根據(jù)顯著性水平,查出臨界值Gα。
?。?)若統(tǒng)計檢驗量大于臨界值,則最大或最小值
為可疑值,應剔除,否則無可疑值。
2.2.2 Welk正態(tài)分布檢驗
?。?)將各試驗室的平均值按由小到大的順序排列。
?。?)按下式計算檢驗統(tǒng)計量:
式中:當m為偶數(shù)時,l=n/2;當m為奇數(shù)時,l=(n-1)/2; αi,m為計算統(tǒng)計量必須的系數(shù)。
(3)根據(jù)顯著性水平查出臨界值Wα。
?。?)若W≥Wα,表示各測量值服從正態(tài)分布,否則表示各測量值不服從正態(tài)分布,各試驗室之間存在系統(tǒng)誤差。
3 數(shù)據(jù)錄入系統(tǒng)
文中所設計的系統(tǒng)將原始數(shù)據(jù)和參數(shù)分別存儲,建立數(shù)據(jù)庫,便于查詢和修改,其程序流程圖如圖2所示。
圖2 數(shù)據(jù)錄入流程圖
Fig.2 Flow chart of entering data
程序運行后,根據(jù)界面的提示,首先輸入測定樣品的爐號、測定組數(shù)、每組測定次數(shù)、元素符號等,然后可一次或數(shù)次輸完數(shù)據(jù)。
4 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
根據(jù)以上所建立的數(shù)學模型,程序的流程圖如圖3所示。
在運行結(jié)果中含有標準物質(zhì)名稱、爐次、元素、各組平均值、總平均值、標準偏差、相對標準偏差、組內(nèi)極差、組間極差、組間平方和、組內(nèi)平方和、計算出的檢驗量及結(jié)論,數(shù)據(jù)齊全,為標準物質(zhì)的鑒定提供了有價值的判斷依據(jù)。
程序設計中,有效數(shù)字的處理按國家有關標準的要求進行,使數(shù)字的取舍更為科學、合理,而且消除了手工計算時對中間數(shù)字的取舍而造成的誤差。
圖3 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)流程圖
Fig.3 Flow chart of system data dealing
5 應用實例
該系統(tǒng)用于高硅高銅系鑄造鋁合金光譜電極標準物質(zhì)研制的數(shù)據(jù)處理,均勻性檢查數(shù)據(jù)和定值數(shù)據(jù)處理結(jié)果如表1和表2所示。
從表1和表2 可以看出:程序運行后,提供了豐富的數(shù)據(jù),可根據(jù)需要在中文系統(tǒng)下進行編輯,以滿足不同的需要。
表1 均勻性檢查數(shù)據(jù)處理結(jié)果
Table 1 The data processing results of homogeneity
高硅高銅系鑄造鋁合金(第4爐)Si(wt%) | |||||||
原始數(shù)據(jù) | |||||||
M/N | 1 | 2 | 平均值 | M/N | 1 | 2 | 平均值 |
1 | 4.494 | 4.495 | 4.495 | 10 | 4.417 | 4.497 | 4.457 |
2 | 4.452 | 4.466 | 4.459 | 11 | 4.410 | 4.385 | 4.398 |
3 | 4.440 | 4.390 | 4.415 | 12 | 4.462 | 4.371 | 4.417 |
4 | 4.517 | 4.379 | 4.448 | 13 | 4.383 | 4.430 | 4.407 |
5 | 4.470 | 4.390 | 4.430 | 14 | 4.452 | 4.585 | 4.519 |
6 | 4.431 | 4.521 | 4.476 | 15 | 4.480 | 4.557 | 4.519 |
7 | 4.369 | 4.477 | 4.423 | 16 | 4.337 | 4.594 | 4.466 |
8 | 4.442 | 4.413 | 4.428 | 17 | 4.405 | 4.552 | 4.479 |
9 | 4.435 | 4.385 | 4.410 | 18 | 4.570 | 4.498 | 4.534 |
=4.454 S=0.0662 RSD=1.49 | |||||||
F-檢驗 | Q1=0.060476 Q2=0.092615
F計=0.691 F表=2.262 | ||||||
結(jié)論:均勻 | |||||||
R-檢驗 | r=0.083 R=0.136 A計=0.610 A表=3.566 | ||||||
結(jié)論:均勻 |
表2 定值數(shù)據(jù)處理結(jié)果 Table 2 The data processing results of certificate |
高硅高銅系鑄造鋁合金(第4爐) Si(wt%) | |||||||||
試驗室代號 | 測定值 | 平均值 | 分析方法代號 | ||||||
1 | 4.602 | 4.605 | 4.564 | 4.565 | 4.5840 | 101 | |||
2 | 4.721 | 4.735 | 4.716 | 4.679 | 4.7128 | 102 | |||
3 | 4.599 | 4.617 | 4.604 | 4.654 | 4.6185 | 102 | |||
4 | 4.613 | 4.697 | 4.760 | 4.764 | 4.7085 | 101 | |||
5 | 4.763 | 4.740 | 4.740 | 4.788 | 4.7578 | 103 | |||
6 | 4.722 | 4.770 | 4.763 | 4.808 | 4.7658 | 102 | |||
7 | 4.737 | 4.722 | 4.720 | 4.740 | 4.7298 | 103 | |||
8 | 4.822 | 4.637 | 4.843 | 4.889 | 4.7978 | 102 | |||
總平均值 4.7093 標準偏差 0.0735 | |||||||||
夏皮羅-威
爾克檢驗 |
臨界值 0.818 計算值 0.912 | ||||||||
結(jié)論: 正態(tài)分布 | |||||||||
Grubbs 檢驗 |
臨界值 2.032 | Gmax=1.204 | 結(jié)論: 無可疑值 | ||||||
Gmin=1.705 | 結(jié)論: 無可疑值 | ||||||||
標準值 4.709 標準偏差 0.074 n=32 |
6 程序說明 ?。?)本程序為模塊化結(jié)構(gòu),便于維護、修改。全部系統(tǒng)可存儲于一張3.5英寸的軟盤內(nèi),而且對計算機無特殊要求,只需DOS漢字平臺支持即可運行,操作簡便。 ?。?)為了防止程序運行時“崩潰”,采取了“錯誤陷阱”的處理方式,發(fā)生錯誤不會退出,而回到出現(xiàn)錯誤之處,重新運行。 ?。?)輸出結(jié)果的形式多樣,既可直接打印輸出、屏幕顯示,也可存盤,隨時可供調(diào)用和打印。 ?。?)在本程序中,數(shù)據(jù)的取舍完全按國標處理,使數(shù)據(jù)的取舍更為合理、科學。 |
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