智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)將步入全新的時(shí)代

　　近日，NI國(guó)家儀器發(fā)布2016年自動(dòng)化測(cè)試展望，一向以協(xié)助工程師和科學(xué)家克服最艱鉅的工程挑戰(zhàn)為己任的單位，所發(fā)布的這份測(cè)試與量測(cè)年度報(bào)告提供了完整概觀，證實(shí)了隨著連線設(shè)備普及的今日，自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境也將進(jìn)入下一個(gè)世代；包括毫米波（mmWave）通訊測(cè)試的準(zhǔn)備作業(yè)，以及如何有效運(yùn)用制造測(cè)試資料來(lái)提升商務(wù)表現(xiàn)等重大自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)剖析。

　　
 　　“NI致力于推動(dòng)優(yōu)異的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，與客戶和供應(yīng)商密切合作，藉此掌握制造與測(cè)試部門所面臨的關(guān)鍵議題。”NI自動(dòng)化測(cè)試行銷總監(jiān)LukeSchreier表示：“不論您的挑戰(zhàn)是測(cè)試超大量的物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備，或是管理已使用20年的測(cè)試系統(tǒng)，我們的目標(biāo)就是激起貴組織內(nèi)的對(duì)話火花，進(jìn)而幫助您降低測(cè)試成本，并且遙遙領(lǐng)先競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手。”
　　
　　2016年自動(dòng)化測(cè)試展望報(bào)告囊括了下列主題：
　　
　　運(yùn)算：剖析生產(chǎn)測(cè)試資料
　　
　　半導(dǎo)體公司率先采用Real-Time資料分析，藉此降低制造測(cè)試成本。軟件：生命周期管理的關(guān)鍵在于軟件
　　
　　只要是長(zhǎng)期專案，就會(huì)面臨產(chǎn)品汰換、OS不斷更新、相容性等狀況，這些都是值得重新探討的舊問題。架構(gòu)：測(cè)試管理軟件的崛起
　　
　　隨著新的程序設(shè)計(jì)語(yǔ)言大量出現(xiàn)，現(xiàn)成的測(cè)試執(zhí)行檔可說(shuō)是有效的解決方案。I/O：特性測(cè)試與生產(chǎn)測(cè)試的平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)化
　　
　　RFIC公司可在產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期中重復(fù)使用IP并完成硬件標(biāo)準(zhǔn)化，藉此降低成本、幅縮短上市時(shí)間。商務(wù)策略：測(cè)試策略的毫米波（mmWave）新浪潮
　　
　　測(cè)試工程師采用模組化解決方案，透過(guò)符合經(jīng)濟(jì)效益的方式檢驗(yàn)高頻率元件。