昆明理工“飛行時間二次離子質譜儀”將正式投用

  作為目前前沿的用于表面成分分析的科學裝置之一，飛行時間二次離子質譜儀因具有分辨率高、靈敏度高、分析速度快、測量范圍寬、樣品消耗少等特點，無論在分析化學、環(huán)境科學，還是在生物醫(yī)學領域，都得到了越來越廣泛的應用。3月15日，昆明理工大學資產管理處組織專家組，對飛行時間二次離子質譜儀（TOF.SIMS-5）進行驗收。

 在逐一核實設備部件，配件型號、數量，質量分析器的動態(tài)離子能量擴展技術（EDR）后，專家組認為，該設備安裝齊全，設備性能和EDR指標均已達到合同指標，通過終極驗收。同時，專家組在設備的維護和管理、設備性能的開發(fā)利用等方面提出了一些意見和建議。截止目前，學校單價500萬元以上的儀器設備已達到5臺套。

 飛行時間二次離子質譜儀（TOF.SIMS-5）主要用于礦物表面深度剖析、表面化學藥劑吸附層厚度、表面微量組分、表面有機物吸附推測、表面3D表征及成像等表面微觀研究。在進一步熟練設備操作和性能后，TOF.SIMS-5將正式投入使用，在礦物加工工程、礦物學、材料學、生命科學等專業(yè)的實驗教學與科研工作中發(fā)揮積極作用。