兩臺“特殊”質(zhì)譜儀落戶核工業(yè)北京地質(zhì)研究院

作者: 2017年04月11日 來源:化工儀器在線 瀏覽量:
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核工業(yè)北京地質(zhì)研究院分析測試研究中心是以核能材料、放射性標準物質(zhì)的制備、地質(zhì)礦產(chǎn)和環(huán)境分析測試技術研究與服務為主的綜合性檢測實驗室技術機構,也是核工業(yè)地質(zhì)行業(yè)的仲裁分析測試實驗室,是地質(zhì)行業(yè)同位素分析

 核工業(yè)北京地質(zhì)研究院分析測試研究中心是以核能材料、放射性標準物質(zhì)的制備、地質(zhì)礦產(chǎn)和環(huán)境分析測試技術研究與服務為主的綜合性檢測實驗室技術機構,也是核工業(yè)地質(zhì)行業(yè)的仲裁分析測試實驗室,是地質(zhì)行業(yè)同位素分析、微束分析等領域的權威機構。

 核工業(yè)北京地質(zhì)研究院分析測試研究中心采購了兩臺特殊的質(zhì)譜儀,今年兩臺設備同時到貨、安裝。一臺是法國CAMECA公司的IMS 1280-HR高分辨二次離子質(zhì)譜儀,另一臺是TESCAN公司的雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質(zhì)譜聯(lián)用系統(tǒng)。

 CAMECA公司工程師正在調(diào)試設備

 TESCAN公司專家正在進行應用培訓

 之所以采購兩臺二次離子質(zhì)譜,是因為高分辨質(zhì)譜儀以極佳的檢出限以及超高的分辨能力和精度著稱,但成像及原位分析能力較差;而聯(lián)用系統(tǒng)是掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)和飛行時間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS),三者的結合,具有SEM的二維高分辨成像和成分、結構等分析能力,結合FIB的微區(qū)分析與加工能力,實現(xiàn)成分和結構的三維分析;FIB與TOF-SIMS的聯(lián)用,相比于大型質(zhì)譜儀具有更高的空間分辨率、更快速的成像速度、更優(yōu)異的成像能力,同時操作也更簡單靈活。整套聯(lián)用系統(tǒng)可同時進行原位超輕元素、同位素分析能力,此外還可以對元素、同位素等進行二維、三維成像分析。

 TESCAN公司在電子顯微鏡和聚焦離子束領域有多項創(chuàng)新,是掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術、聚焦離子束與飛行時間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術以及氙等離子聚焦離子束技術的開拓者,也是行業(yè)領域的技術領導者。

 這是國內(nèi)首套雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質(zhì)譜聯(lián)用系統(tǒng),TESCAN十分重視和核工業(yè)北京地質(zhì)研究院的合作。

 TESCAN公司表示,他們將繼續(xù)跟蹤雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質(zhì)譜聯(lián)用系統(tǒng)的最新應用進展,分多個篇幅進行介紹,也歡迎感興趣的用戶前來參觀和交流。

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