關(guān)于《波長色散 X 射線熒光光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范》修訂征求意見

作者: 2021年01月06日 來源:全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量:
字號:T | T
【化工儀器網(wǎng)政策標(biāo)準(zhǔn)】近日,根據(jù)市場監(jiān)管總局辦公廳關(guān)于下達(dá)《2020年國家計量技術(shù)規(guī)范制定、修訂及宣貫計劃》的通知,由中國計量科學(xué)研究院為主等單位承擔(dān)了《波長色散X射線熒光光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范》的修訂工作,目前
  【化工儀器網(wǎng) 政策標(biāo)準(zhǔn)】 近日,根據(jù)市場監(jiān)管總局辦公廳關(guān)于下達(dá)《2020 年國家計量技術(shù)規(guī)范制定、修訂及宣貫計劃》的通知,由中國計量科學(xué)研究院為主等單位承擔(dān)了《波長色散 X 射線熒光光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范》的修訂工作,目前該校準(zhǔn)規(guī)范征求意見稿等文件現(xiàn)已完成。為了使上述國家計量技術(shù)規(guī)范能廣泛適用和更具操作性,特向各有關(guān)單位征求意見。
 
  波長色散X射線熒光光譜儀主要用于固體、粉末或液體物質(zhì)的元素分析,其測定范圍可從0.0001%~100%(w/w),工作基本原理是X射線管發(fā)出的初級X射線激發(fā)樣品中的原子內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生空穴,外層軌道電子填補這一空穴時產(chǎn)生特征X熒光射線,通過晶體分光并用探測器對特征X射線進(jìn)行測量,根據(jù)各種元素特征X射線的波長和強度進(jìn)行元素的定性和定量分析。
 
  JJG 810-1993《波長色散X射線熒光光譜儀》國家計量檢定規(guī)程自1993年2月實施至今已將近30年。然而,隨著波長色散X射線熒光光譜儀技術(shù)的發(fā)展,儀器本身的部件及功能也有了長足的改進(jìn)。原文件中的一些技術(shù)性能指標(biāo)都是針對七八十年代生產(chǎn)的儀器所制定的,就目前的儀器現(xiàn)狀和計量術(shù)語要求來看,規(guī)程不太適應(yīng),而且也沒有體現(xiàn)該儀器作為計量器具所具有的特點。
 
  更為重要的一點是,原JJG 810-93規(guī)程的檢定指標(biāo)中并沒有體現(xiàn)溯源性,也沒有相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的信息,難以保證最終測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和有效性。綜上所述,原規(guī)程已不適應(yīng)目前廣泛使用的波長色散波長色散X射線熒光光譜儀的檢定要求,所以要對原規(guī)程進(jìn)行適當(dāng)?shù)男抻?,使之能適用于當(dāng)前計量檢定的需要。
 
  在原文件的基礎(chǔ)上,規(guī)范修訂的主要項目包括名稱、范圍、精密度校準(zhǔn)、穩(wěn)定性校準(zhǔn)、靈敏度校準(zhǔn)、計數(shù)線性校準(zhǔn)、校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)、校準(zhǔn)證書及校準(zhǔn)記錄格式八個方面。
 
  因原有檢定規(guī)程修訂為校準(zhǔn)技術(shù)規(guī)范,依據(jù)JJF 1001—2011《通用計量術(shù)語及定義》和JJF 1071—2010《國家計量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則》對規(guī)范的書寫格式、內(nèi)容排序進(jìn)行了整體修改和補充。
 
全球化工設(shè)備網(wǎng)(http://m.bhmbl.cn )友情提醒,轉(zhuǎn)載請務(wù)必注明來源:全球化工設(shè)備網(wǎng)!違者必究.

標(biāo)簽:

分享到:
免責(zé)聲明:1、本文系本網(wǎng)編輯轉(zhuǎn)載或者作者自行發(fā)布,本網(wǎng)發(fā)布文章的目的在于傳遞更多信息給訪問者,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點,同時本網(wǎng)亦不對文章內(nèi)容的真實性負(fù)責(zé)。
2、如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問題,請在30日內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,我們將在第一時間作出適當(dāng)處理!有關(guān)作品版權(quán)事宜請聯(lián)系:+86-571-88970062