《微束分析 薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法》意見征求(2020-07-15)

閱讀《微束分析 薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法》征求意見稿后可知，標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 20724-2006相比，主要變化如下：增加了規(guī)范性引用文件；補(bǔ)充修訂了術(shù)語和定義；增加了符號和縮略語；儀器設(shè)備和分析…[詳情]

全國微束分析標(biāo)委會表面化學(xué)分委員會年會召開(2018-05-15)

【中國化工儀器網(wǎng)行業(yè)動(dòng)態(tài)】4月26日至27日，全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會表面化學(xué)分析分技術(shù)委員會(SAC/TC38/SC2，以下簡稱表面化學(xué)分委)2018年年會在中國計(jì)量科學(xué)研究院(簡稱中國計(jì)量院)北京市昌…[詳情]