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MC方案｜ 白光反射光譜法（WLRS）測量薄膜和超薄膜厚度

作者： 2019年05月24日 來源：全球化工設備網 瀏覽量：
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光學膜厚儀膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀、FilmThicknessGauges【利用材料的折射率來計算的，非接觸式的膜厚測試儀】FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個廣泛的多樣化

光學膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀、 Film Thickness Gauges【利用材料的折射率來計算的，非接觸式的膜厚測試儀】

FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個廣泛的多樣化的應用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案，如：

半導體、有機電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學傳感……  


                                             


                                                       FR-pRo系列

            

     

 

 

 

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標簽：光學膜厚儀

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