MC方案｜ 白光反射光譜法（WLRS）測量薄膜和超薄膜厚度

作者： 2019年05月24日 來源：全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量：
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光學(xué)膜厚儀膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀、FilmThicknessGauges【利用材料的折射率來計(jì)算的，非接觸式的膜厚測試儀】FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個(gè)廣泛的多樣化

光學(xué)膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀、 Film Thickness Gauges【利用材料的折射率來計(jì)算的，非接觸式的膜厚測試儀】

FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個(gè)廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案，如：

半導(dǎo)體、有機(jī)電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學(xué)傳感……  


                                             


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