涂層測(cè)厚儀如何使用才可避免降低誤差

作者: 2019年07月03日 來源:全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量:
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涂層測(cè)厚儀如何使用才可避免降低誤差在使用涂層測(cè)厚儀測(cè)量的時(shí)候盡量使用被測(cè)材料來作為調(diào)零的基體,以避免由于不同的材料而導(dǎo)致導(dǎo)磁性不同,而出現(xiàn)測(cè)量誤差。等到在被測(cè)材料的同一部位調(diào)零以后,再進(jìn)行相同部位的測(cè)

涂層測(cè)厚儀如何使用才可避免降低誤差 

在使用涂層測(cè)厚儀測(cè)量的時(shí)候盡量使用被測(cè)材料來作為調(diào)零的基體,以避免由于不同的材料而導(dǎo)致導(dǎo)磁性不同,而出現(xiàn)測(cè)量誤差。等到在被測(cè)材料的同一部位調(diào)零以后,再進(jìn)行相同部位的測(cè)量,如在側(cè)臉工件邊緣及中間部分時(shí)應(yīng)當(dāng)分別調(diào)零。
在利用涂層測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量的時(shí)候還應(yīng)當(dāng)注意探頭和被測(cè)料面保持垂直,以免產(chǎn)生大的誤差。若是測(cè)量的同一個(gè)點(diǎn),可將探頭每次都離開10公分以上,間隔幾秒以后再進(jìn)行測(cè)量,以免被測(cè)材料探頭磁化而影響測(cè)量結(jié)果。
涂層測(cè)厚儀作為調(diào)零用的表面需要盡量保持光滑,如果表面不光滑,應(yīng)當(dāng)視情況取平均值,因?yàn)楸砻娲植诙葘?duì)測(cè)量的數(shù)值影響較大。結(jié)構(gòu)不同應(yīng)分別進(jìn)行調(diào)零測(cè)量,平面調(diào)零側(cè)臉平面,測(cè)量凹面調(diào)零后測(cè)量,測(cè)量凸面調(diào)零后進(jìn)行測(cè)量,避免由于結(jié)構(gòu)不同而在測(cè)量上產(chǎn)生誤差。

 

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