MiniTest 2500/4500錯(cuò)誤信息故障排除

作者: 2019年11月14日 來源:全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量:
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新型涂層測(cè)厚儀MiniTest2500和MiniTest4500結(jié)合了高精度的現(xiàn)代測(cè)量技術(shù)和經(jīng)典的處理概念。涂層測(cè)厚儀MiniTest2500和MiniTest4500根據(jù)連接到測(cè)厚儀的傳感器類型,根據(jù)磁感應(yīng)或渦流原理進(jìn)行無損測(cè)量。MiniTest2500-Min

新型涂層測(cè)厚儀MiniTest 2500和MiniTest 4500結(jié)合了高精度的現(xiàn)代測(cè)量技術(shù)和經(jīng)典的處理概念。 涂層測(cè)厚儀MiniTest 2500和MiniTest 4500根據(jù)連接到測(cè)厚儀的傳感器類型,根據(jù)磁感應(yīng)或渦流原理進(jìn)行無損測(cè)量。

MiniTest 2500-MiniTest4500錯(cuò)誤信息故障排除:

E 1:探頭不兼容。
E 2:未連接探頭。 完全重置后未連接任何探頭時(shí),將顯示此錯(cuò)誤消息。
E 3:探頭故障。 在打開儀器或在操作過程中探頭已斷開連接時(shí)顯示。
E 4:傳感器提供不穩(wěn)定的測(cè)量值(例如,由于周圍的強(qiáng)磁場(chǎng)或在非常柔軟的材料上進(jìn)行測(cè)量時(shí))。
E 5:儀器開啟時(shí),傳感器與金屬太近。
E 6:電池電壓低。 。
E 11:數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器飽和。 。
E 12:不允許零校準(zhǔn)。 。
E 13:不允許進(jìn)行CTC校準(zhǔn)。
E 14:不允許進(jìn)行2點(diǎn)校準(zhǔn)(使用兩個(gè)校準(zhǔn)箔)。
E 15:CTC校準(zhǔn)后無法進(jìn)行1點(diǎn)校準(zhǔn)。
E 16:所選的應(yīng)用程序已分配給另一個(gè)傳感器,或者傳感器已被修復(fù)。
E 17:傳感器未初始化
E 18:找不到BT設(shè)備

E 19:BT-連接失敗
E 20:校準(zhǔn)失敗
E 21:SD卡故障
E 22:文件錯(cuò)誤

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