微型真空探針臺(tái)是一種用于科學(xué)研究的高精度測試設(shè)備，它可以在高低溫環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)性能測試。這種探針臺(tái)具有體積小、精度高、操作方便等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域的研究。

高低溫型微型真空探針臺(tái)是一種更高級(jí)別的測試設(shè)備，它可以在高溫和低溫環(huán)境下進(jìn)行測試。這種探針臺(tái)通常采用先進(jìn)的制冷技術(shù)，可以在短時(shí)間內(nèi)將測試環(huán)境溫度降低到液氮溫區(qū)，或者升高到數(shù)百攝氏度的高溫。這種設(shè)備對(duì)于研究材料在不同溫度下的電學(xué)性能變化具有重要意義。

除了溫度控制之外，高低溫型微型真空探針臺(tái)還具有其他先進(jìn)的特性。例如，它可以實(shí)現(xiàn)微米級(jí)別的定位精度，使得探針可以準(zhǔn)確地接觸被測試材料的表面。此外，這種設(shè)備還配備了高精度的電學(xué)測量系統(tǒng)，可以準(zhǔn)確地測量材料的電阻、電容、電感等電學(xué)性能。